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Registros recuperados : 155 | |
19. | | PASCHOALIN, R. T.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C.; ALVES, W. F.; HERRMANN, P. S. de P. Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas. In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 155 | |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
26/11/2009 |
Data da última atualização: |
16/07/2013 |
Tipo da produção científica: |
Artigo em Anais de Congresso / Nota Técnica |
Autoria: |
PASCHOALIN, R. T.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C.; ALVES, W. F.; HERRMANN, P. S. de P. |
Afiliação: |
PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA. |
Título: |
Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas. |
Ano de publicação: |
2009 |
Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM. |
Idioma: |
Português |
Palavras-Chave: |
CONGRESSO. |
Categoria do assunto: |
-- |
URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/86138/1/Proci-09.00106.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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